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  • Z3000審計(jì)最終粒度儀
    審計(jì)最終粒度儀：專為(wèi)複雜(zá)體(tǐ)系提供高(gāo)精度粒度解析方案，工(gōng)作(zuò)原理(lǐ)：動态光(guāng)散射（Dynaβmic Light Scattering, DLS），檢測範圍：0.3nm-10.0μm。
    更新時(shí)間(jiān)：2024-08-26型号：Z3000
    現(xiàn)在聯系
  • A7000 APS大(dà)粒子(zǐ)計(jì)數(shù)器(qì)
    大(dà)粒子(zǐ)計(jì)數(shù)器(qì)工(gōng)作(zuò)原理(lǐ)：單顆粒光(guāng)學傳感技(jì)術(shù)（Single Particle Optic‍al Sizing，SPOS）,檢測範圍：0.5 μm – 400 μm
    更新時(shí)間(jiān)：2024-08-26型号：A7000 APS
    現(xiàn)在聯系
  • A7000光(guāng)阻法顆粒計(jì)數(shù)器(qì)
    光(guāng)阻法顆粒計(jì)數(shù)器(qì)型号：AccuSizer 780 A7000 APS 全自(zì)動顆粒計(jì)數(shù)/粒度分(fēn)析儀，工(gōδng)作(zuò)原理(lǐ)：單顆粒光(guāng)學傳感技(jì)術(shù)（Single Particle Optic≤al Sizing，SPOS）。
    更新時(shí)間(jiān)：2024-08-26型号：A7000
    現(xiàn)在聯系
  • ZETA電(diàn)位粒度分(fēn)析儀
    ZETA電(diàn)位粒度分(fēn)析儀：帶相(xiàng)位分(fēn)析的(de)多(duō)普勒電(diàn)泳σ光(guāng)散射原理(lǐ)（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phaβse analyze, DELS with PALS）。
    更新時(shí)間(jiān)：2024-08-26型号：
    現(xiàn)在聯系
  • 高(gāo)濃度顆粒計(jì)數(shù)
    高(gāo)濃度顆粒計(jì)數(shù)：隻需通(tōng)過鼠标的(de)單擊操作(zuò)，即能(néng)幫助用(yòng)戶在短(duǎn)時(shí)間(jiān) 內(nèi)完δ成從(cóng)進樣到(dào)檢測，完成清洗系統的(de)所有(yǒu)操作(zuò)，使用(yòng)戶獲得(de)重要(yào)的(de)粒徑分(fēn)布信息。
    更新時(shí)間(jiān)：2024-08-26型号：
    現(xiàn)在聯系
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