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  • zeta電(diàn)位及粒度分(fēn)析儀
    zeta電(diàn)位及粒度分(fēn)析儀：帶相(xiàng)位分(fēn)析的(de)多(duō)​普勒電(diàn)泳光(guāng)散射原理(lǐ)（Doppler Electrophoretic Light Scattering $with Phase analyze, DELS with PALS）
    更新時(shí)間(jiān)：2024-08-26型号：
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  • Nicomp Z3000 Zeta粒度及zeta電(diàn)位分(fēn)析儀
    粒度及zeta電(diàn)位分(fēn)析儀工(gōng)作(zuò)原理(lǐ)： 粒度檢測： 動态光(guā§ng)散射（Dynamic Light Scattering, DLS） Zeta電(diàn)位檢測：帶相(xiàng)位分(σfēn)析的(de)多(duō)普勒電(diàn)泳光(guāng)散射原理(lǐ)（Doppler Electrophoretic Lig↑ht Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）
    更新時(shí)間(jiān)：2024-08-26型号：Nicomp Z3000 Zeta
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  • Nicomp Z3000 Zetazeta電(diàn)位分(fēn)析儀測粒徑
    Nicomp Z3000 Zetazeta電(diàn)位分(fēn)析儀測粒徑
    zeta電(diàn)位分(fēn)析儀測粒徑工(gōng)作(zuò)原理(lǐ)： 粒度檢測： 動态光(guāng)散射（Dynamic Light Scattering, DLS✘） Zeta電(diàn)位檢測：帶相(xiàng)位分(fēn)析的(de)多(duō)普勒電(diàn)‍泳光(guāng)散射原理(lǐ)（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze,← DELS with PALS）
    更新時(shí)間(jiān)：2024-08-26型号：Nicomp Z3000 Zeta
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  • ZETA電(diàn)位粒度分(fēn)析儀
    ZETA電(diàn)位粒度分(fēn)析儀：帶相(xiàng)位分(fēn)析的(de)多(duō)普勒電(diàn)泳光(guāng)散射原理(lǐ)（Doppl♦er Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS< with PALS）。
    更新時(shí)間(jiān)：2024-08-26型号：
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  • Nicomp Z3000 ZetaZETA電(diàn)位分(fēn)析儀
    ZETA電(diàn)位分(fēn)析儀工(gōng)作(zuò)原理(lǐ)： 粒度檢測： 動态光(guāng)散射（Dynami¶c Light Scattering, DLS） Zeta電(diàn)位檢測：帶相(xiàng)位分(fēn)析的(de)多(duō)普勒電(diàn)泳光(gu♥āng)散射原理(lǐ)（Doppler Electrophoretic Light Scattering with ®Phase analyze, DELS with PALS）
    更新時(shí)間(jiān)：2024-08-26型号：Nicomp Z3000 Zeta
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