
簡要(yào)描述:粒度及zeta電(diàn)位分(fēn)析儀工(gōng)作(zuò)原理(lǐ):
粒度檢測: 動态光(guāng)散射(Dynamic Light Scattering, DLS)
Zeta電(diàn)位檢測:帶相(xiàng)位分(fēn)析的(de)多(duō)普勒電(diàn)¶泳光(guāng)散射原理(lǐ)(Doppler Electrophoretic Light Scattering §with Phase analyze, DELS with PALS)
更新時(shí)間(jiān):2024-08-26
浏覽次數(shù):5501| 品牌 | PSS | 分(fēn)散方式 | 濕法分(fēn)散 |
|---|---|---|---|
| 價格區(qū)間(jiān) | 面議(yì) | 儀器(qì)種類 | 動态光(guāng)散射 |
| 産地(dì)類别 | 進口 | 應用(yòng)領域 | 醫(yī)療衛生(shēng),環保,化(huà)工(gōng),生(shēng)物(wù)産業(yè),制(zhì)藥/生(shēng)物(wù)制(zh∞ì)藥 |
| 粒度範圍 | 0.3nm--10.0μm | Zeta電(diàn)位範圍 | -500mV?--?+500mV |
粒度及zeta電(diàn)位分(fēn)析儀簡介:
Nicomp Z3000系列納米激光(guāng)粒度儀是(shì)在原有(yǒu)的(de)經典型号380ZLS基礎上(shàng)升×級配套而來(lái),采用(yòng)動态光(guāng)散射(Dynamic Light Scattering, σDLS)原理(lǐ)檢測分(fēn)析顆粒的(de)粒度分(fēn)布,粒徑檢測範圍 0.3nm – 10↓μm。其配套粒度分(fēn)析軟件(jiàn)複合采用(yòng)了(le)高(gāo)斯( Gaussian)單峰算(suàn)法和(hé)擁有(yǒu)*技(jì)術(shù)的(de) Nβicomp 多(duō)峰算(suàn)法,對(duì)于多(duō)組分(fēn)、粒徑分(fēn)布不(bù)均勻分(fēn)散體(tǐ)系的(dβe)分(fēn)析具有(yǒu)*優勢。


粒度及zeta電(diàn)位分(fēn)析儀技(jì)術(shù)優勢
1、高(gāo)靈敏度PMT檢測器(qì);
2、可(kě)搭配不(bù)同功率光(guāng)源;
3、準确度高(gāo),接近(jìn)樣品真實值;
4、可(kě)測試水(shuǐ)相(xiàng)及有(yǒu)機(jī)相(xiàng)樣品的(de)粒度及Zeta電(diàn)位;
5、快(kuài)速檢測,可(kě)以追溯曆史數(shù)據;
6、結果數(shù)據以多(duō)種形式和(hé)格式呈現(xiàn);
7、符合USP,CP等個(gè)多(duō)藥典要(yào)求;
8、無需校(xiào)準;
9、複合型算(suàn)法:
(1)高(gāo)斯(Gaussion)正态粒度分(fēn)布與*的(de)Nicomp多(duō)峰分(fēn)布算(suàn)法自(zì)由切換
(2)頻(pín)率(Frequency)Zeta電(diàn)位分(fēn)析法與*的(de)相(xiàng)位(Phase)分(fēn)析法自(z ì)由切換
10、模塊化(huà)設計(jì)便于維護和(hé)升級;
(1)可(kě)自(zì)動稀釋模塊(選配);
(2)自(zì)動進樣系統(選配);
(3)搭配多(duō)角度檢測器(qì)(選配);
Nicomp多(duō)峰分(fēn)布概念
基線調整自(zì)動補償功能(néng)和(hé)高(gāo)分(fēn)辨率多(duō)峰算(suàn)法是(shì)Nicomp 380系δ列儀器(qì)所*的(de)兩個(gè)主要(yào)特點,Nicomp創始人(rén)Dave Nicole很(hěn)早就(jiù)認識到(dào)傳統的(de)動↕态光(guāng)散射理(lǐ)論僅給出高(gāo)斯模式的(de)粒度分(fēn)布,這(zhè)和(hé)實踐生(shēng)産生(shēng)活中不(bù)相(xiàng)符,因為<(wèi)現(xiàn)實中很(hěn)多(duō)樣本是(shì)多(duō)分(fēn)散體(tǐ)系,非單分(fēn)散體(tǐ)系,而且高(gāo)斯分(fēn)布靈敏∏性不(bù)足,分(fēn)辨率不(bù)高(gāo),這(zhè)些(xiē)特點都(dōu)制(zhì)約了(le)納米粒度儀β在實際生(shēng)産生(shēng)活中的(de)使用(yòng)。其開(kāi)創性的(de)開(kāi)創了(le)Nicomp多(duō)峰分(fēn)布理(lǐ)論,大(dλà)大(dà)提高(gāo)了(le)動态光(guāng)散射理(lǐ)論的(de)分(fēn)辨率和(hé)靈敏性。
Nicomp多(duō)峰分(fēn)布優勢
Nicomp系列儀器(qì)均可(kě)以自(zì)由在Gaussian分(fēn)布模式和(hé)Nicomp多(duō)峰分(fēn)布模式中切換。其♠不(bù)僅可(kě)以給出傳統的(de)DLS系統的(de)結果,更可(kě)以通(tōng)過Nicomp多(duō)峰分(fēn)布模式體(tǐ)現(xiàn)樣品的(de)準确情況。依托于Nicomp系列儀器(qì)一(yī)系列優異的(de)算(suàn)法和(hé)高(gāo)靈敏性的(de)硬件(jiàn)設計(jì),Nicomp納米激光(guāng)粒度儀可(kě)以有(yǒu)效區(qū) 分(fēn)1:2的(de)多(duō)分(fēn)散體(tǐ)系。
ZETA電(diàn)位分(fēn)析儀優勢:
模塊化(huà)設計(jì)
Nicomp Z3000納米激光(guāng)粒度儀是(shì)全*在應用(yòng)動态光(guāng)散射技(jì)術(shù)上(shàng)的(de)基礎上↑(shàng)加入多(duō)模塊方法的(de)*進粒度儀。随著(zhe)模塊的(de)升級和(hé)增加,Nicomp 的(de)功能(néng)體(tǐ>)系越來(lái)越強大(dà),可(kě)以用(yòng)于各種複雜(zá)體(tǐ)系的(de)檢測分↔(fēn)析。
選配 21CFR Part 11法規軟件(jiàn)——符合cGMP要(yào)求
Nicomp系列儀器(qì)全系配備了(le)符合美(měi)國(guó)聯邦法規21章(zhāng)第11款(21 CFR PART11)要(yào)求的(de)軟件(jiàn)。具有(y✔ǒu)數(shù)據自(zì)動備份,審計(jì)追蹤,權限分(fēn)級,電(diàn)子(zǐ)簽名,可(kě)連接Lims系統等多(duō)項功能(néng)。
中國(guó)食品藥品監督管理(lǐ)局(NMPA)有(yǒu)政策趨勢将對(duì)醫(yī)藥研發企業(yè)實施規範的(de)GLP 管理(lǐ™)。使用(yòng)符合21 CFR PART 11法規的(de)軟件(jiàn)更能(néng)符合現(xiàn)在GLP/GMP的(de)要(yào)求。
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