(1)篩分(fēn)法。優點：簡單、直觀、設備造價低(dī)，常用(yòng)于大(dà)于40um的(de)樣品。缺點：結果受¥人(rén)為(wèi)因素和(hé)篩孔變形影(yǐng)響較大(dà)。
(2)顯微(wēi)鏡(圖像)法。優點：簡單、直觀，可(kě)進行(xíng)形貌分(fēn)析，适合分(fēn)布窄(zui大(dà)和₩(hé)zui小(xiǎo)粒徑的(de)比值小(xiǎo)于10：1)的(de)樣品。缺點：代表性差，分(fēn)析分(fēn)布範圍寬的(de)樣品比較麻煩，無法分(fēn)析小(xiǎφo)于1um的(de)樣品。
(3)沉降法(包括重力沉降和(hé)李新沉降)。優點：操作(zuò)漸變，儀器(qì)可(kě)以連續運行(xíng)，價格低(dī)，準确性和(hé)重複性較好(¥hǎo)，測試範圍較廣。缺點：測試時(shí)間(jiān)較長(cháng)，操作(zuò)比較繁瑣。
(4)電(diàn)阻法。優點：操作(zuò)漸變可(kě)測顆粒數(shù)，等效概念明(míng)确，速度快(kuài)，準确性好(hǎo)。缺點：不(bù)适合測量小®(xiǎo)于0.1um的(de)顆粒樣品，對(duì)粒度分(fēn)布寬的(de)樣品更換小(xiǎo)孔管比較麻Ω煩。
(5)激光(guāng)法。優點：操作(zuò)簡便，測試速度快(kuài)，測試範圍廣，重複性和(hé)準确性好(hǎo)，可(kě)進行(xíng)在線測☆量和(hé)幹法測量。缺點：結果受分(fēn)布模型影(yǐng)響較大(dà)，儀器(qì)造價較高(gāo)，分(fēn)辨力低(dī)。
(6)電(diàn)子(zǐ)顯微(wēi)鏡法。優點：适合測試超新顆粒甚至納米顆粒，分(fēn)辨力高§(gāo)，可(kě)進行(xíng)形貌和(hé)結構分(fēn)析，缺點：樣品少(shǎo)，代表性差，測量易受人(rén)為(wèi)因素影(yǐng)響，儀器(qìα)價格昂貴。
(7)光(guāng)阻法。優點：測試便捷快(kuài)速，可(kě)測液體(tǐ)或氣體(tǐ)中顆粒數(shù)，分(fēn)辨力高(gāo)。缺點：不(bù)适用(yòn∑g)粒徑小(xiǎo)于1umde樣品，進行(xíng)系統比較講究，僅适合對(duì)塵埃、污染物(wù)或已稀釋好(hǎo)的(de)藥物(wù)進行(xíng)測量，對(duì)一(yī)般粉>體(tǐ)用(yòng)的(de)不(bù)多(duō)。
(8)透氣法。優點：儀器(qì)價格低(dī)。不(bù)用(yòng)對(duì)樣品進行(xíng)分(fēn)散，可(kě)測測性材料粉體(₹tǐ)。缺點：隻能(néng)得(de)到(dào)平均粒度值，不(bù)能(néng)測粒度分(fēn)布☆；不(bù)能(néng)測小(xiǎo)于5um細粉。
(9)X射線小(xiǎo)角散射法。用(yòng)于納米級顆粒的(de)粒度測量。
(10)光(guāng)子(zǐ)相(xiàng)關譜法(動态光(guāng)散射法)。用(yòng)于納米級顆粒的(de)粒度測量。
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