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  • 激光(guāng)顆粒計(jì)數(shù)器(qì)
    激光(guāng)顆粒計(jì)數(shù)器(qì)
    激光(guāng)顆粒計(jì)數(shù)器(qì)型号：AccuSizer 780 A7000 APS 全自(zì)動顆粒計(jì)數(sh&ù)/粒度分(fēn)析儀，單顆粒光(guāng)學傳感技(jì)術(shù)（Single Particle Optical Sizing，SPOS），檢測範圍： 0.5 μm" – 400 μm。
    更新時(shí)間(jiān)：2024-08-26型号：
    現(xiàn)在聯系
  • Nicomp N3000激光(guāng)納米粒度儀
    激光(guāng)納米粒度儀：專為(wèi)複雜(zá)體(tǐ)系提供高(gāo)精度粒度解析方案，工(gōng)作(zuò)原理(lǐ)：動态光(guāng)散射（Dynami©c Light Scattering, DLS），檢測範圍：0.3nm-10.0μm。
    更新時(shí)間(jiān)：2024-08-26型号：Nicomp N3000
    現(xiàn)在聯系
  • zeta電(diàn)位及粒度分(fēn)析儀
    zeta電(diàn)位及粒度分(fēn)析儀：帶相(xiàng)位分(fēn)析的(de)多(duō)普勒÷電(diàn)泳光(guāng)散射原理(lǐ)（Doppler Electrophoretic Light Scatteriλng with Phase analyze, DELS with PALS）
    更新時(shí)間(jiān)：2024-08-26型号：
    現(xiàn)在聯系
  • Nicomp Z3000 Zeta粒度及zeta電(diàn)位分(fēn)析儀
    粒度及zeta電(diàn)位分(fēn)析儀工(gōng)作(zuò)原理(lǐ)： 粒度檢測： 動态光(guāngδ)散射（Dynamic Light Scattering, DLS） Zeta電(diàn)位檢測：帶相(xiàng)位分(fēn)Ω析的(de)多(duō)普勒電(diàn)泳光(guāng)散射原理(lǐ)（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase anal≤yze, DELS with PALS）
    更新時(shí)間(jiān)：2024-08-26型号：Nicomp Z3000 Zeta
    現(xiàn)在聯系
  • Nicomp Z3000 Zetazeta電(diàn)位分(fēn)析儀測粒徑
    zeta電(diàn)位分(fēn)析儀測粒徑工(gōng)作(zuò)原理(lǐ)： 粒度檢測： 動态♥光(guāng)散射（Dynamic Light Scattering, DLS） Zeta電(diàn)位檢測：帶相(xiàng)位分(fē$n)析的(de)多(duō)普勒電(diàn)泳光(guāng)散射原理(lǐ)（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analy♦ze, DELS with PALS）
    更新時(shí)間(jiān)：2024-08-26型号：Nicomp Z3000 Zeta
    現(xiàn)在聯系
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