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    Nicomp Z3000 ZetaZeta電(diàn)位與粒徑分(fēn)析儀
    專為(wèi)複雜(zá)體(tǐ)系提供高(gāo)精度粒度解析 儀器(qì)型号：Nicomp Z3000 Zeta電Ω(diàn)位/納米粒度分(fēn)析儀 工(gōng)作(zuò)原理(lǐ)： 粒度檢測： 動€态光(guāng)散射（Dynamic Light Scattering, DLS） Zeta電(diàn)位檢測：帶相(xiàng)位分(fēn)析的(de)多♦(duō)普勒電(diàn)泳光(guāng)散射原理(lǐ)（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze​, DELS with PALS）
    更新時(shí)間(jiān)：2024-08-26型号：Nicomp Z3000 Zeta
    現(xiàn)在聯系
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