ZETA電(diàn)位粒度分(fēn)析儀

ZETA電(diàn)位粒度分(fēn)析儀簡介：

在原有(yǒu)的(de)經典型号380ZLS基礎上(shàng)升級配套而來(lái)，采用(yòn<g)動态光(guāng)散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理(lǐ)檢測分(fē∏n)析顆粒的(de)粒度分(fēn)布，粒徑檢測範圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分(fēn)析軟件(jiàn)複合采用(yòng)了(le)高(gāo)斯（ Gaussian）單峰算(su©àn)法和(hé)擁有(yǒu)*技(jì)術(shù)的(de) Nicomp 多(duō)峰算(suàn)法，對(duì)于多(duō)組分(fēn)、粒徑•分(fēn)布不(bù)均勻分(fēn)散體(tǐ)系的(de)分(fēn)析具有(yǒu)*優勢。β

ZETA電(diàn)位粒度分(fēn)析儀參數(shù)：

1、高(gāo)靈敏度PMT檢測器(qì)；

2、可(kě)搭配不(bù)同功率光(guāng)源；

3、準确度高(gāo)，接近(jìn)樣品真實值；

4、可(kě)測試水(shuǐ)相(xiàng)及有(yǒu)機(jī)相(xiàng)樣品的(de)粒度及Zeta電(diàn)位；

5、快(kuài)速檢測，可(kě)以追溯曆史數(shù)據；

6、結果數(shù)據以多(duō)種形式和(hé)格式呈現(xiàn)；

7、符合USP,CP等個(gè)多(duō)藥典要(yào)求；

8、無需校(xiào)準；

9、複合型算(suàn)法：

（1）高(gāo)斯（Gaussion）正态粒度分(fēn)布與*的(de)Nicomp多(duō)峰分(fēn)布算(suàn)≥法自(zì)由切換

（2）頻(pín)率（Frequency）Zeta電(diàn)位分(fēn)析法與*的(de)相(xiàng)位（Phase）分(fēn)析法自(zì)由切換

10、模塊化(huà)設計(jì)便于維護和(hé)升級；

（1）可(kě)自(zì)動稀釋模塊（選配）；

（2）自(zì)動進樣系統（選配）；

（3）搭配多(duō)角度檢測器(qì)（選配）；

Nicomp系列儀器(qì)均可(kě)以自(zì)由在Gaussian分(fēn)布模式和(hé)Niγcomp多(duō)峰分(fēn)布模式中切換。其不(bù)僅可(kě)以給出傳統的(de)DLS系統的(de)結果，更可(kě)以通(tōng)過Nicom→p多(duō)峰分(fēn)布模式體(tǐ)現(xiàn)樣品的(de)準确情況。依托于Nicomp系列儀器(qì)一(yī)系列優異的(de)算(suàn)法和(hé)高(gā o)靈敏性的(de)硬件(jiàn)設計(jì)，Nicomp納米激光(guāng)粒度儀可(kě)以有(yǒu)∞效區(qū)分(fēn)1:2的(de)多(duō)分(fēn)散體(tǐ)系。

ZETA電(diàn)位分(fēn)析儀優勢：

模塊化(huà)設計(jì)

Nicomp Z3000納米激光(guāng)粒度儀是(shì)全*在應用(yòng)動态光(guāng)散射技(jì)術(shù)上(‍shàng)的(de)基礎上(shàng)加入多(duō)模塊方法的(de)*進粒度儀。随著(zhe)模塊的(de)升級和(hé)增加，Nicomp 的(de)功能(néng)體(tǐ)系越來(☆lái)越強大(dà)，可(kě)以用(yòng)于各種複雜(zá)體(tǐ)系的(de)檢測分(fēn)析。

選配 21CFR Part 11法規軟件(jiàn)——符合cGMP要(yào)求

Nicomp系列儀器(qì)全系配備了(le)符合美(měi)國(guó)聯邦法規21章(zhāng)第11款（21 CFR PART11）要(yào)求的(de)軟件(jiàn)。具☆有(yǒu)數(shù)據自(zì)動備份，審計(jì)追蹤，權限分(fēn)級，電(diàn)子(zǐ)簽名，可(kě)連接Lims系統等多(duō)項功能(n★éng)。

中國(guó)食品藥品監督管理(lǐ)局（NMPA）有(yǒu)政策趨勢将對(duì)醫(yī)藥研發企業(×yè)實施規範的(de)GLP 管理(lǐ)。使用(yòng)符合21 CFR PART 11法規的(de)軟件(jià↕n)更能(néng)符合現(xiàn)在GLP/GMP的(de)要(yào)求。