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  • AccuSizer 780 A7000 APS大(dà)乳粒分(fēn)析儀
    大(dà)乳粒分(fēn)析儀工(gōng)作(zuò)原理(lǐ):單顆粒光(guāng)學傳感技(jì)術(s‌hù)(Single Particle Optical Sizing,SPOS),檢測範圍: 0.5≠ μm – 400 μm
    更新時(shí)間(jiān):2024-08-26型号:AccuSizer 780 A7000 APS
    現(xiàn)在聯系
  • PSS光(guāng)阻法粒度儀
    PSS光(guāng)阻法粒度儀:專為(wèi)複雜(zá)體(tǐ)系提供高(gāo)精度粒度解析方案,工(gōng)作(zuò∑)原理(lǐ):動态光(guāng)散射(Dynamic Light Scattering, DLS)₽,檢測範圍:0.3nm-10.0μm。
    更新時(shí)間(jiān):2024-08-26型号:
    現(xiàn)在聯系
  • Nicomp Z3000 ZetaZETA電(diàn)位分(fēn)析儀
    ZETA電(diàn)位分(fēn)析儀工(gōng)作(zuò)原理(lǐ): 粒度檢測: 動态光(guΩāng)散射(Dynamic Light Scattering, DLS) Zeta電(diàn)位檢測:帶相(xiàng)位分(fēn)析的(de)多(du☆ō)普勒電(diàn)泳光(guāng)散射原理(lǐ)(Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase anal‌yze, DELS with PALS)
    更新時(shí)間(jiān):2024-08-26型号:Nicomp Z3000 Zeta
    現(xiàn)在聯系
  • Nicomp 380 N3000納米激光(guāng)粒度儀
    納米激光(guāng)粒度儀:專為(wèi)複雜(zá)體(tǐ)系提供高(gāo)精度粒度解析方案,工(gōng)作(≠zuò)原理(lǐ):動态光(guāng)散射(Dynamic Light Scattering, DLS),檢測範圍:0.3nm-10.0μm。
    更新時(shí)間(jiān):2024-08-26型号:Nicomp 380 N3000
    現(xiàn)在聯系
  • Nicomp Z3000 ZetaZeta電(diàn)位與粒徑分(fēn)析儀
    專為(wèi)複雜(zá)體(tǐ)系提供高(gāo)精度粒度解析 儀器(qì)型号:Nicomp Z3000 Zeta電(diàn)位/納米粒度分(fēn)'析儀 工(gōng)作(zuò)原理(lǐ): 粒度檢測: 動态光(guāng)散射(Dynamic Light Scattering, DLS) Zeta電(diàn)位檢<測:帶相(xiàng)位分(fēn)析的(de)多(duō)普勒電(diàn)泳光(guāng)散射原理(lǐ)(Doppler Electr↑ophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS)
    更新時(shí)間(jiān):2024-08-26型号:Nicomp Z3000 Zeta
    現(xiàn)在聯系
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