zeta電(diàn)位分(fēn)析儀測量的(de)應用(yòng)可(kě)以兩種方式進行(xíng)。其一(yī),如(rú)果一(yī)切正常,造紙(zhǐ)廠(chǎng)可(kě)以建立一(yī)個(gè)zeta電(diàn)位儀記錄表。可(kě)以通(tōng)過對(duì)照(zhào)這(zhè)一(yī)标準表中的↔(de)變量檢查以後出現(xiàn)的(de)問(wèn)題。其二,可(kě)以通(tōng)過檢查制(zhì)造工(gōng)藝中•每一(yī)階段的(de)zeta電(diàn)位,改善現(xiàn)有(yǒu)的(de)制(zhì)造工(gōng)藝。
制(zhì)造工(gōng)藝中紙(zhǐ)漿及其它顆粒的(de)zeta電(diàn)位可(kě)以因多(duō)種原因而改變,例如(rú)提純、p✘H值、紙(zhǐ)漿來(lái)源、廢紙(zhǐ)成份及添加劑數(shù)量的(de)改變。将Zetasizer Nano和(hé)多(duō)功能(§néng)滴定儀(MPT-2)組合使用(yòng),可(kě)以自(zì)動地(dì)研究這(zhè)些(xiē)不(bù)同的(de)γ參數(shù)對(duì)紙(zhǐ)漿和(hé)其它顆粒産生(shēng)的(de)影(yǐng)響。MPT-2可(kě)以自(zì)動測量pH值、電(diàn)導率或添加劑濃度對(duì)分(fēn)散體(tǐ)系zeta電(diàn)位儀的(de)影(yǐng)響。
電(diàn)聲法zeta電(diàn)位分(fēn)析儀方法原理(lǐ):當作(zuò)為(wèi)電(diàn)極的(de)金(jīn)屬導體×(tǐ)浸入某種電(diàn)解質溶液時(shí),由于金(jīn)屬氧化(huà)還(hái)原傾向不(bù)同,電γ(diàn)荷主要(yào)在一(yī)個(gè)方向上(shàng)移動産生(shēng)電(diàn)流。說(shuō)明(míng)化(huà)學電(diàn)池內(nèi)部有(yǒ÷u)電(diàn)動勢産生(shēng),電(diàn)極之間(jiān)存在電(diàn)位差,即每個(gè)電(diàn)極都(dōu)有(yǒu)一(yī)個(gè)電(δdiàn)位值,而且電(diàn)位高(gāo)低(dī)不(bù)等。該電(diàn)位稱為(wèi)電(diàn)極電 (diàn)位。對(duì)于一(yī)個(gè)半電(diàn)池而言,電(diàn)極電(diàn)位是(shì)由電(diàn)極與電(diàn)解質溶液在它們的(d¶e)界面上(shàng)建立的(de)電(diàn)極反應平衡所表現(xiàn)出的(de)電(diàn)位差。電(diàn)極電(diàn)位的(de)大(dà)小(xiǎo)與溶液中組成半電•(diàn)池反應的(de)離(lí)子(zǐ)活度有(yǒu)關。
zeta電(diàn)位分(fēn)析儀使用(yòng)注意事(shì)項:
1. Zeta電(diàn)位量程-150~+150mV,粒度範圍10nm~30μm,樣品要(yào)呈透明(míng)狀,可(kě)将濃樣品離(lí)心取上(shànαg)清液。
2. 钯電(diàn)極用(yòng)後及時(shí)清洗幹淨(用(yòng)去(qù)離(lí)子(zǐ)水(shuǐ)清洗,并擦幹),插入幹燥比色皿中保存。
3. 實驗後及時(shí)清理(lǐ)樣品倉,還(hái)原所使用(yòng)附件(jiàn)。比色皿沖洗後→可(kě)重複利用(yòng)。
4. 在點擊Datebase時(shí)不(bù)要(yào)誤點到(dào)Rebuild Database ,如(rú)不(bù)小(xiǎo)心點到(dào),在彈出的(de)對(duì)話(huà)框中點擊cancel。
5. 做(zuò)水(shuǐ)相(xiàng)Zeta電(diàn)位時(shí)不(bù)能(néng)同時(shí)測試有(yǒu)機(jī)相(xiàng)Zeta電(diàn)"位和(hé)粒徑測試:做(zuò)有(yǒu)機(jī)相(xiàng)Zeta電(diàn)位時(shí)不(bù)能↑(néng)同時(shí)測試水(shuǐ)相(xiàng)Zeta電(diàn)位和(hé)粒徑測試。
6. 管理(lǐ)員(yuán)要(yào)定期将每個(gè)文(wén)件(jiàn)夾拷貝保存,方法是(shì):-Archive Selected Folder,将保存的(de)™文(wén)件(jiàn)導入方法為(wèi):Reload Archive File。