激光(guāng)粒度儀和(hé)顆粒圖像儀有(yǒu)什(shén)麽區(qū)别？
粒度儀可(kě)分(fēn)為(wèi)納米粒度儀，激光(guāng)粒度儀，單顆粒光(guāng)阻法粒度儀和(hé)圖像粒度儀等。
粒度儀是(shì)用(yòng)物(wù)理(lǐ)的(de)方法測試固體(tǐ)顆粒的(de)大(dà)小(xiǎo )和(hé)分(fēn)布的(de)一(yī)種儀器(qì)。根據測試原理(lǐ)的(de)不(bù)同分(fēn)為(wèi)沉降 式粒度儀、沉降天平、激光(guāng)粒度儀、光(guāng)學顆粒計(jì)數(shù)器(qì)、電(diàn)阻式顆♦粒計(jì)數(shù)器(qì)、顆粒圖像分(fēn)析儀等。
粒度儀分(fēn)類介紹：
激光(guāng)粒度儀
采用(yòng)MIE散射原理(lǐ)的(de)激光(guāng)粒度儀，假設被測顆粒為(wèi)标π準球形，無法測量顆粒形貌，多(duō)為(wèi)離(lí)線粒度儀。
采用(yòng)MIE散射原理(lǐ)的(de)激光(guāng)粒度儀由自(zì)主研發的(de)會(huì)聚光(guāng)傅立葉變換光(guāng)路(lù)和(λhé)無約束自(zì)由拟合是(shì)數(shù)據處理(lǐ)軟件(jiàn)組成，可(kě)檢測顆粒大(dà)小(xiǎo)及分(fēn)布，覆蓋了(le)毫米、微(wēi)米、亞微(wē<i)米及納米多(duō)個(gè)波段。
其測試顆粒大(dà)小(xiǎo)及分(fēn)布時(shí)采用(yòng)的(de)分(fēn)散系統根據不(bù)同的(de)測試要(yào)求分(fēn)為(wèi)濕法分("fēn)散系統、幹法分(fēn)散系統和(hé)幹濕一(yī)體(tǐ)分(fēn)散系統。
當光(guāng)線照(zhào)射到(dào)顆粒上(shàng)時(shí)會(huì)發生(shēng)散射、衍射，其衍射∏、散射光(guāng)強度均與粒子(zǐ)的(de)大(dà)小(xiǎo)有(yǒu)關。觀測其光≥(guāng)強度，可(kě)應用(yòng)Fraunhofer衍射理(lǐ)論和(hé)Mie散射理(lǐ)論求得(de)粒子(zǐ)徑分(fēn)布(激光(guāng)衍射/散射法)，使÷用(yòng)Mie散射理(lǐ)論進行(xíng)計(jì)算(suàn)。光(guāng)入射到(dào)球形粒子(z☆ǐ)時(shí)可(kě)産生(shēng)三類光(guāng)：一(yī)類，在粒子(zǐ)表面、通(tōng)過粒子(zǐ)內(nèi)部、經粒子(zǐ)內(nèi)表面的→(de)反射光(guāng)；第二類，通(tōng)過粒子(zǐ)內(nèi)部而折射出的(de)光(guāng)；第三←類，在表面的(de)衍射光(guāng)。這(zhè)些(xiē)現(xiàn)象與粒子(zǐ)的(de)大(dà)小(xiǎo)無關，'全都(dōu)可(kě)以作(zuò)為(wèi)光(guāng)散射處理(lǐ)。
一(yī)般地(dì)，光(guāng)散射現(xiàn)象可(kě)以用(yòng)經Maxwell電(diàn)₹磁方程式嚴密解出的(de)Mie散射理(lǐ)論說(shuō)明(míng)。但(dàn)是(shì)，實際使用(yòng)起≠來(lái)過于複雜(zá)，為(wèi)了(le)求得(de)實際的(de)光(guāng)強度，可(kě)根據入射波長(cháng)λ和(hé)粒子(zǐ)半徑r的(de)關系，即：rλ時(shí)，Fraunhofer衍射理(lǐ)論。在使用(yòng)上(shàng)述理€(lǐ)論時(shí)，應考慮到(dào)光(guāng)的(de)波長(cháng)和(hé)粒徑的(de)關系，在不(bù)同的(de )領域使用(yòng)不(bù)同的(de)理(lǐ)論。
粒徑大(dà)于波長(cháng)的(de)時(shí)候，由Fraunhofer衍射理(lǐ)論求得(de)的(de)衍∞射光(guāng)強度和(hé)Mie散射理(lǐ)論求得(de)的(de)散射光(guāng)強度大(dà)體(tǐ)是(shì)一(yī)緻的(de)。因此，可(kě)以把Fraunhofer衍射理(lǐ)論作(zuò)為(wèi)Mie散射理(lǐ)論的(de)近(j&ìn)似處理(lǐ)。這(zhè)時(shí)，光(guāng)散射(衍射)的(de)方向幾乎都(dōu)集中在前方，其強度與粒子(zǐ)徑的(de)大(dà)小(x™iǎo)有(yǒu)關，有(yǒu)很(hěn)大(dà)的(de)變化(huà)。即表示粒子(zǐ)徑固有(yǒu)的(de)光(guāng)強度譜，解出粒子(≈zǐ)的(de)光(guāng)強度分(fēn)布(散射譜)就(jiù)可(kě)以定出粒子(zǐ)徑。當波 長(cháng)和(hé)粒子(zǐ)徑很(hěn)接近(jìn)的(de)時(shí)候，不(bù)能(néng)用(yòng)Fraunhofer的(de)近(jìn)似式來(lái)表示散§射強度。這(zhè)時(shí)有(yǒu)必要(yào)根據Mie散射理(lǐ)論作(zuò)進一(←yī)步討(tǎo)論。在Mie散射中的(de)散射光(guāng)強度由入射光(guāng)波長(cháng)、粒子(zǐ)徑、粒子(zǐ)和(hé)介質§的(de)相(xiàng)對(duì)折射率來(lái)确定。
顆粒圖像儀：
對(duì)顆粒拍(pāi)照(zhào)後将圖片分(fēn)析處理(lǐ)，可(kě)以測量顆粒形貌，通(tōng)過此方法可(kě)實現(≈xiàn)原位實時(shí)在線測量。
顆粒圖像儀擁有(yǒu)靜(jìng)态、動态兩種測試方法。
靜(jìng)态方式使用(yòng)改裝的(de)顯微(wēi)鏡系統，配合高(gāo)清晰攝像機(jī)，将↕顆粒樣品的(de)圖像直觀的(de)反映到(dào)電(diàn)腦(nǎo)屏幕上(shàng)，配合相(xiàγng)關的(de)計(jì)算(suàn)機(jī)軟件(jiàn)可(kě)進行(xíng)顆粒大(dà)小(xiǎo)、形狀、整體(tǐ)分(fēn)布等屬性的(de)計(jì)算(suàδn)，并可(kě)以将測試結果輸出為(wèi)報(bào)告。
動态方式具有(yǒu)形貌和(hé)粒徑分(fēn)布雙重分(fēn)析能(néng)力。重建了(le)全新循環分(fē♠n)散系統和(hé)軟件(jiàn)數(shù)據處理(lǐ)模塊，解決了(le)靜(jìng)态顆粒圖像儀的(de)制£(zhì)樣繁瑣、采樣代表性差、顆粒粘連等缺陷。
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